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[判断题]探头晶片与缺陷表面不平行的超声波探伤法,称为斜射法。( )
A.正确
B.错误
[判断题]>探头晶片与缺陷表面不平行的超声波探伤法,称为斜射法。 ( )
A.正确
B.错误
[单选题]探头晶片与试件探测面不平行的超声波探伤法称为()。
A. 斜射法
B. 水浸法
C. 接触法
D. 穿透法
[单选题]探头晶片与试件探测面不平行的超声波探伤法是:( )。
A.斜射法
B.水浸法
C.接触法
D.穿透法
[单选题]>探头晶片与试件探测面不平行的超声波探伤法,称为( )。
A.斜射法
B.水浸法
C.接触法
D.穿透法
[填空题]为有效的发现工件内部的片状缺陷,在射线探伤法和超声波探伤法二者之间,选用( )方法最合适。
[判断题]探头晶片与缺陷表面不平行的超声波探伤方法,称为斜射法。
A.正确
B.错误
[判断题]探头晶片与缺陷表面不平行的德超声波探伤方法,称为斜射法。( )
A.正确
B.错误
[判断题]超声波探伤中,可测距离最大的探伤方法是横波探伤法。()
A.正确
B.错误
[判断题]检验近表面缺陷时,最好采用 联合双晶探头是因为该探头晶片前面带有机玻璃延迟块,减小了纵波单晶探头存在的阻塞。()
A.正确
B.错误
[判断题]选择较小尺寸的探头晶片探伤不利于对缺陷定位。( )
A.正确
B.错误
[单选题]探头晶片尺寸(),近场区长度增加,对近表面探伤不利。
A.增加
B.减小
C.不变
D.平方关系
[判断题]提高探头频率,减小晶片尺寸可以提高近表面缺陷的探测能力。()
A.正确
B.错误
[判断题](66317)( )探头晶片面积相同,高频率探头的声束扩散角要比低频率探头的声束扩散角大。( )(1.0分)
A.正确
B.错误
[判断题] 探头晶片面积相同,高频率探头的声束扩散角要比低频率探头的声束扩散角大。( )
A.正确
B.错误
[单选题]选择较小尺寸的探头晶片探伤( )。
A.不利于对缺陷定位
B.有利于发现缺陷
C.有利于对缺陷定位
D.可提高探伤灵敏度