[判断题]检验近表面缺陷时，最好采用联合双晶探头是因为该探头晶片前面带有机玻璃延迟块，减小了纵波单晶探头存在的阻塞。（）
A.正确
B.错误

更多"[判断题]检验近表面缺陷时，最好采用联合双晶探头是因为该探头晶片前面"的相关试题:

[判断题]检验近表面缺陷时，最好采用联合双晶探头。
A.正确
B.错误

[单选题]利用IE 法测试混凝土内部缺陷时,当缺陷尺寸d 和缺陷深度T 满足什么条件时, 可以检出缺陷反射及板底反射()
A..0.3B.0.2C.0.1D..0.4

[单选题]声波垂直入射到表面粗糙的缺陷时，缺陷表面粗糙度对缺陷反射波高的影响是（）
A.反射波高随粗糙度的增大而增加
B.无影响
C.反射波高随粗糙度的增大而下降
D.以上a和b都可能

[单选题]在使用磁粉检测线状缺陷时，若磁力线与线状缺陷（），缺陷显现的最清楚。
A. 平行
B. 交叉
C. 垂直

[单选题]超声波垂直入射到表面粗糙的缺陷时,缺陷表面粗糙度对缺陷反射波高的影响是------( )
A.反射波高随粗糙度的增大而增加;
B.缺陷表面粗糙度对缺陷反射波高无影响;
C.反射波高随粗糙度的增大而下降;
D.A和B都可能

[多选题]重大缺陷时以下设备缺陷处理时限不大于36小时的是()。
A.保护设备(220kV及以上稳控装置)
B.安自设备(220kV及以上稳控装置)
C.通信设备
D.自动化设备

[多选题]紧急缺陷时以下设备缺陷处理时限不大于2小时的是()。
A.保护设备
B.安自设备
C.通信设备
D.自动化设备

[判断题]( )水压试验时,严禁対管身、接口进行敲打和修补缺陷,遇有缺陷时,应作出标记,卸压后修补。
A.正确
B.错误

[单选题]检验近表面缺陷，最有效的探头是()。
A.可变角探头
B.直探头
C.斜探头
D.收/发联合双晶探头

[判断题]收/发联合双晶探头适合于检验近表面缺陷。
A.正确
B.错误

[单选题]检验近表面缺陷,最有效的方法是（　　　　）。
A.可变角探头
B.直探头
C.斜探头
D.收/发联合双晶探头

[判断题] 焊缝返修时,如果已挖到板厚的 2/3 仍有缺陷,或者还没有发现缺陷时,应该继续挖找,直到找到缺陷为止。( )
A.正确
B.错误

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