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发布时间:2024-11-06 02:15:10

[单选题]锻件探伤时,哪些因素会在荧光屏上产生非缺陷回波()。
A.边缘效应
B.工件形状及外形轮廓
C.缺陷形状和取向
D.以上全部

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[单选题]锻件探伤时,哪些因素会在荧光屏上产生非缺陷回波()。
A.边缘效应
B.工件形状及外形轮廓
C.缺陷形状和取向
D.以上全部
[多选题]锻件探伤时,那些因素会在荧光屏上产生非缺陷回波?()。
A.边缘效应
B.工件形状及外形轮廓
C.迟到波
[多选题]方形锻件垂直法探伤时,荧光屏上出现一随探头移动而游动的缺陷回波,其波幅较低但底波降低很大,该缺陷的取向叙述方法不正确()。
A.平行且靠近探测面
B.与声束方向平行
C.与探测面成较大角度
D.平行且靠近底面
[多选题]在直探头探伤时,发现缺陷回波不高,但底波降低较大,则该缺陷可能是()。
A.与表面成较大角度的平面缺陷
B.反射条件很差的密集缺陷
C.工件被探测面材料声阻抗
[多选题]在直探头探伤时,发现缺陷回波不高,但底波降低较大,则该缺陷可能为:()。
A.与表面成较大角度的平面缺陷
B.反射条件很差的密集缺陷
C.AB都不对
[判断题]纵波法探伤时,若工件中存在吸收性缺陷,声波穿过缺陷后能量衰减,底面回波减少,缺陷愈严重,衰减愈小,底面回波愈少。
A.正确
B.错误
[单选题]在超声探伤时,如果声束指向不与平面缺陷垂直,则缺陷尺寸一定时,缺陷表面越平滑反射回波越:()。
A.大
B.小
C.无影响
D.不一定
[多选题]在锻件直探头探伤时可能定不准近侧面缺陷的位置,其原因是()。
A.侧面反射波带来干涉
B.侧面折射带来干涉
C.频率太高
D.以上都不是

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