更多"[判断题]影响离子电导率的因素包括温度、杂质、缺陷（）"的相关试题:
[判断题]影响电子电导的因素包括温度、晶体结构、晶格缺陷（）
A.正确
B.错误
[单选题]影响烹饪原料品质变化的外界因素中的物理因素包括温度,湿度和( )。
A.亮度
B.日光
C.环境
D.干燥度
[判断题]决定爆炸品敏感度的内在因素是它的化学组成和结构,影响敏感度的外来因素还有温度、杂质、结晶、密度等。
A.正确
B.错误
[单选题]导致作业场所发生事故的危险因素中设备、设施缺陷因素包括()。
A.强度不够
B.机械噪声
C.密封不良
[单选题]等离子切割器喷枪所形成的等离子束的温度可达到( )℃。
A.6000
B.8000
C.9000
D.10000
[单选题]常见引起出生缺陷的因素不包括
A.高热
B.核辐射
C.放射线
D.铁
E.汞
[多选题]风机制造质量缺陷引起振动的因素包括( )。
A.叶轮与主轴的配合间隙过大
B.转子不平衡
C.机壳刚度不足
D.叶轮叶片出口角度不对或偏差超过标准
[判断题]爆炸极限的影响因素包括初始温度、初始压力、惰性气体含量、氧含量等。
A.正确
B.错误
[多选题]经确认由（ ）等共性因素导致的设备缺陷称为家族缺陷。
A.检修维护工艺
B.选用材料
C.设计原因
D.安装工艺
[多选题]经确认由于制造厂（ ）等同一共性因素导致的设备缺陷或隐患称为家族缺陷。
A.设计
B.材质
C.工艺
D.检测
[单选题]内部控制缺陷包括设计缺陷和( ) 缺陷。
A.重大
B.一般
C.运行
D.重要
[判断题]未经确认由设计、和／或材质、和／或工艺共性因素导致的设备缺陷称为家族缺陷。如出现这类缺陷，具有同一设计、和／或材质、和／或工艺的其他设备，不论其当前是否可检出同类缺陷，在这种缺陷隐患被消除之前，都称为有家族缺陷设备。
A.正确
B.错误
[判断题]经确认由设计、和/或材质、和/或工艺共性因素导致的设备缺陷称为家族缺陷如出现这类缺陷，具有同一设计、和/或材质、和/或工艺的其它设备，不论其当前是否可检出同类缺陷，在这种缺陷隐患被消除之前，都称为有家族缺陷设备（ ）
A.正确
B.错误
