[多选题]在直探头探伤时，发现缺陷回波不高，但底波降低较大，则该缺陷可能是（）。
A.与表面成较大角度的平面缺陷
B.反射条件很差的密集缺陷
C.工件被探测面材料声阻抗

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[多选题]在直探头探伤时，发现缺陷回波不高，但底波降低较大，则该缺陷可能为：（）。
A.与表面成较大角度的平面缺陷
B.反射条件很差的密集缺陷
C.AB都不对

[多选题]在直接接触法直探头探伤时，底波消失的原因是：（）。
A.耦合不良
B.存在与声束不垂直的平面缺陷
C.存在与始脉冲不能分开的近表面缺陷

[多选题]在锻件直探头探伤时可能定不准近侧面缺陷的位置，其原因是（）。
A.侧面反射波带来干涉
B.侧面折射带来干涉
C.频率太高
D.以上都不是

[单选题]采用直探头探伤时，荧光屏上产生杂波和无规则信号的原因可能是（）。
A.细晶组织
B.耦合剂不清洁
C.表面粗糙
D.粗晶组织

[多选题]在用直探头进行水浸法探伤时，回波之间至少出现一次（）。
A.缺陷回波
B.迟到回波
C.底面回波
D.侧面回波

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