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[单选题]靠近探头的长条形缺陷并不一定都能测到,因为（ ）。
A.声束扩散
B.材质衰减
C.仪器阻塞效应
D.折射
[单选题]靠近探头的缺陷不一定都能探测到，因为有（ ）。
A.声束扩散
B.材质衰减
C.仪器阻塞效应
D.折射
[单选题]靠近探头的条形缺陷并不一定都能探测到, 这是因为( )。
A.声束扩散
B.仪器阻塞效应
C.材质衰减
D.声波的折射
[判断题]靠近探头的长条形缺陷不一定能探测到是因为仪器的阻塞效应。
A.正确
B.错误
[单选题]靠近探头的干涉区，常被称为（ ）。
A.近场区
B.声阻抗
C.指数场
D.相位区
[判断题]靠近探头的干涉区，称为声阻抗。( )
A.正确
B.错误
[判断题]利用双晶直探头确定缺陷边界或指示长度时,探头移动方向应与探头分割面平行。
A.正确
B.错误
[判断题]检验近表面缺陷时，最好采用联合双晶探头是因为该探头晶片前面带有机玻璃延迟块，减小了纵波单晶探头存在的阻塞。( )
A.正确
B.错误
[多选题]在超声波探伤中，直探头能发现什么样的缺陷？双晶探头用于探测工件中什么部位的缺陷？
A.直探头主要用于探测与探测面平行的缺陷
B.直探头主要用于探测与探测面垂直的缺陷
C.双晶探头用于探测工件近表面缺陷
D.双晶探头用于探测工件远表面缺陷
