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[判断题]696/1137 测量电气设备介质损耗角正切值tanδ时,消除电场干扰影响的方法有屏蔽法、选相倒相法、移相法及干扰平衡法等。
A.正确
B.错误
[判断题]69 测量电气设备介质损耗角正切值tanδ时,消除电场干扰影响的方法有屏蔽法、选相倒相法、移相法及干扰平衡法等。
A.正确
B.错误
[判断题]93 电场的均匀程度对空气间隙的击穿特性有很大影响,电场越均匀,击穿电压越低。
A.正确
B.错误
[判断题]938/1137 电场的均匀程度对空气间隙的击穿特性有很大影响,电场越均匀,击穿电压越低。
A.正确
B.错误
[判断题]用西林电桥测量介质损耗角正切值存在严重的磁场干扰和电场干扰,用数字介损测量仪测量干扰要小得多。()
A.正确
B.错误
[判断题]采用末端屏蔽法测量串级式电压互感器的介损，不会受到电源系统和外界电场的干扰。
A.正确
B.错误
[单选题]半导体屏蔽纸除了起均匀电场作用外,也可以起( )作用。
A.改善老化;
B.改善绝缘;
C.改善温度;
D.改善老化和绝缘性能。
[判断题]CA005 为了防止屏蔽电缆两端接地，失去屏蔽抗干扰效果，变送器侧屏蔽电缆一般采取绝缘浮空方法，不接地。
A.正确
B.错误
[单选题]在有强电场干扰的现场，测量试品介质损耗因数tgδ，有多种抗干扰测量方法，并各有一定的局限性，但下列项目( )的说法是错的
A.选相倒相法：正、反相测得值的差别较大，有时可达±50%及以上
B.外加反干扰电源补偿法：补偿电源与干扰信号间的相位有不确定性
C.变频测量方法：测量的稳定性、重复性及准确性较差
D.“过零比较”检测方法：测量结果的分散性稍大
[单选题]153/1137 测量电气设备介质损耗角正切值tanδ时,消除电场干扰影响的方法中利用外加的特制可调电源,向测量回路上施加一个反干扰电压,使电桥平衡后再加试验电压的方法称为（）。
A.A：.屏蔽法
B.B：.选相倒相法
C.C：.干扰平衡法
[单选题]248/1137 测量电气设备介质损耗角正切值tanδ时,消除电场干扰影响的方法中利用改变试验电源的相位,使外电场的干扰产生相反的结果,再对选相倒相前后各次测试所得数据进行计算,选取误差较小的tanδ值的方法称为（）。
A.A：.屏蔽法
B.B：.选相倒相法
C.C：.移相法
[单选题]299/1137 测量电气设备介质损耗角正切值tanδ时,消除电场干扰影响的方法中使用移相器改变试验电压的相位,在试验电流与干扰电流相同和相反两种情况下分别测量tanδ的方法称为（）。
A.A：.屏蔽法
B.B：.选相倒相法
C.C：.移相法
[判断题]749/1137 测量电气设备介质损耗角正切值tanδ时,消除电场干扰影响的方法中使用移相器改变试验电压的相位,在试验电流与干扰电流相同和相反两种情况下分别测量tanδ的方法称为移相法。
A.正确
B.错误
[判断题]584/1137 测量电气设备介质损耗角正切值tanδ时,消除电场干扰影响的方法中利用外加的特制可调电源,向测量回路上施加一个反干扰电压,使电桥平衡后再加试验电压的方法称为屏蔽法。
A.正确
B.错误
[判断题]700/1137 测量电气设备介质损耗角正切值tanδ时,消除电场干扰影响的方法中利用改变试验电源的相位,使外电场的干扰产生相反的结果,再对选相倒相前后各次测试所得数据进行计算,选取误差较小的tanδ值的方法称为选相倒相法。
A.正确
B.错误
[判断题]605/1137 测量电气设备介质损耗角正切值tanδ时,消除电场干扰影响的方法中利用外加的特制可调电源,向测量回路上施加一个反干扰电压,使电桥平衡后再加试验电压的方法称为干扰平衡法。
A.正确
B.错误
[单选题] 测量电气设备介质损耗角正切值tanδ时,消除电场干扰影响的方法中利用外加的特制可调电源,向测量回路上施加一个反干扰电压,使电桥平衡后再加试验电压的方法称为（）。
A. 屏蔽法
B. 选相倒相法
C. 干扰平衡法
[单选题] 测量电气设备介质损耗角正切值tanδ时,消除电场干扰影响的方法中利用改变试验电源的相位,使外电场的干扰产生相反的结果,再对选相倒相前后各次测试所得数据进行计算,选取误差较小的tanδ值的方法称为（）。
A. 屏蔽法
B. 选相倒相法
C. 移相法
