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发布时间:2023-10-18 04:16:33

[单选题]直射法探伤时试件的探测面应选在与缺陷最大表面( )面上.
A.相垂直的;
B.相平行的;
C.倾斜的

更多"[单选题]直射法探伤时试件的探测面应选在与缺陷最大表面( )"的相关试题:

[单选题]若须对一个与探测面成一定倾斜角度的缺陷正确评价,为使波束垂直射及缺陷的最大表面,则要( )。
A.A. 改变频率
B.B. 调整波束入射角
C.C. 打磨探测面
D.D. 提高探伤灵敏度
[判断题]若须对一个与探测面成一定倾斜角度的缺陷正确评价,为使波束垂直射及缺陷的最大表面,则要调整波束入射角。
A.正确
B.错误
[判断题]表面波只能在材料的表面传播,所以不能发现距探测面大于一个表面波长的缺陷。
A.正确
B.错误
[填空题]探测表面状态不佳时,将使探头与试件间的接触( )( );从而使检岀缺陷的灵敏度( ) ( )、始波( )( )和盲区( )( )
[多选题]试件内部的、光滑的、片状的与探测面垂直的缺陷,能有效发现缺陷的探伤方法是( )。
A. 串列式探伤
B. 斜探头探伤
C. 双晶片直射法
D. 直探头探伤
[填空题]厚度有限的平板试件用底面多次回波法探测无缺陷部位时,超声波在探测面与底面之间( )( ),底面回波次数( )( ),各次回波间距( )( ),高度( )( )
[判断题]在超声波探伤中,直探头主要用于探测与探测面垂直的缺陷。
A.正确
B.错误
[填空题]将纵波通过( )( )等介质斜入射至试件探测面进行探伤时,试件中可以有( ) ( );( )( );( )( );( )( )波型,与入射时的( )( )有关.
[填空题]直射法探测底面与探测面平的试件时,若仪器失调,耦合不良,都可导致底面回波高度( )( )此外还可能是由于( )( );( )( );( )( )引起的.

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