更多"[填空题]直射法探测底面与探测面平的试件时,若仪器失调,耦合不良,都可"的相关试题:
[单选题]斜入射横波法探测平板形试件时,探测图形中( ).
A.没有底面回波;
B.有底面回波;
C. 有大型缺陷回波时,底面回波消失
[单选题]用同样尺寸和频率的探头作( )探测 同一试件时,透入试件的超声波束指向性最差.
A.直接接触法;
B.低层液浸法;
C.高层液浸法
[单选题]纵波直射法探测平板形试件时,如果仪器工作条件和耦合状态良好,试件材质衰减很小,但探伤图形中既无缺陷波,又无底波,这是由于试件中存在( ).
A.与探测面平行的大缺陷;
B.与探测垂直的大缺陷;
C.与探测倾斜的大缺陷
[判断题]IIW试块测定斜探头的入射点，在探测任何声速的试件时其位置不变。（ ）
A.正确
B.错误
[单选题]用IIW标准试块测定斜探头的折射角度,在探测任何声速的试件时,此值( ).
A.不变;
B.变化
[单选题]《TB/T2340-2012》标准规定,0°探头在GTS一60C试块上探测底面，当波高达到80％时的静态灵敏度余量大于或等于24 dB，信噪比不小于( ) dB。
A.4
B.8
C.12
D.16
[单选题]0°探头在GTS-60C试块上探测底面，当波高达到80%时的静态灵敏度余量大子或等于24dB;信噪比不小于（）。
A.8dB
B.10dB
C.16dB
D.24dB
[判断题]0°探头在GTS-60C试块上探测底面，当波高达到80%时的静态灵敏度余量大于或等于16dB；信噪比不小于24dB.
A.正确
B.错误
[填空题]厚度有限的平板试件用底面多次回波法探测无缺陷部位时,超声波在探测面与底面之间( )( ),底面回波次数( )( ),各次回波间距( )( ),高度( )( )
[判断题]探测面与工件底面不平行时将导致底面回波消失。
A.正确
B.错误
[单选题]用底面的方法校准探测灵敏度时,底面所在部位( ).
A.应无缺陷;
B.可以有缺陷;
C. 可以是任意的
