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[判断题]检验近表面缺陷时,最好采用 联合双晶探头是因为该探头晶片前面带有机玻璃延迟块,减小了纵波单晶探头存在的阻塞。
A.正确
B.错误
[判断题]检验近表面缺陷时,最好采用联合双晶探头是因为该探头晶片前面带有机玻璃延迟块,减小了纵波单晶探头存在的阻塞。( )
A.正确
B.错误
[判断题]检验近表面缺陷时,最好采用联合双晶探头
A.正确
B.错误
[单选题]超声波垂直入射到表面粗糙的缺陷时,缺陷表面粗糙度对缺陷反射波高的影响是------( )
A.反射波高随粗糙度的增大而增加;
B.缺陷表面粗糙度对缺陷反射波高无影响;
C.反射波高随粗糙度的增大而下降;
D.A和B都可能
[单选题]检验近表面缺陷,最有效的方法是:( )
A.可变角探头;
B.直探头;
C.斜探头;
D.收/发联合双晶探头.
[单选题]检验近表面缺陷,最有效的探头是()。
A.可变角探头
B.直探头
C.斜探头
D.收/发联合双晶探头
[判断题]收/发联合双晶探头适合于检验近表面缺陷。
A.正确
B.错误
[单选题]在探测不与声束垂直且表面平整额的平面状小缺陷时,随着缺陷面积的增大,则反射幅度( )
A.增高
B.降低
C.不变
D.增高或降低与声阻抗有关