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[判断题]检验近表面缺陷时，最好采用联合双晶探头是因为该探头晶片前面带有机玻璃延迟块，减小了纵波单晶探头存在的阻塞。（ ）
A.正确
B.错误
[判断题]检验近表面缺陷时，最好采用联合双晶探头
A.正确
B.错误
[多选题]在PMS系统中登记设备缺陷时，应严格按照缺陷标准库和现场设备缺陷实际情况对缺陷()、缺陷描述以及缺陷分类依据进行选择。
A.主设备
B.设备部件
C.部件种类
D.缺陷部位
[多选题]在PMS系统中登记设备缺陷时，应严格按照缺陷标准库和现场设备缺陷实际情况对缺陷主设备、()进行选择。
A.设备部件
B.部件种类
C.缺陷部位
D.缺陷描述以及缺陷分类依据
[单选题]在PMS系统中登记设备缺陷时，应严格按照( )和现场设备缺陷实际情况对缺陷主设备、设备部件、部件种类、缺陷部位、缺陷描述以及缺陷分类依据进行选择。
A.缺陷标准库
B.现场运行规程
C.缺陷管理规定
D.运维管理规定
[单选题]焊缝探伤时，发现具有一定延伸度的缺陷时，应用相对（ ）法测量缺陷的延伸度。
A.3db
B.6db
C.12dB
D.半坡高度法
[多选题]在PMS系统中登记设备缺陷时，应严格按照缺陷标准库和现场设备缺陷实际情况对()进行选择。
A.缺陷主设备、设备部件
B.部件种类、缺陷部位
C.缺陷描述
D.缺陷分类依据
[多选题]在PMS系统中登记设备缺陷时，应严格按照( )对缺陷主设备、设备部件、部件种类、缺陷部位、缺陷描述以及缺陷分类依据进行选择。
A.缺陷处理办法
B.缺陷标准库
C.现场设备缺陷实际情况
[单选题]超声波垂直入射到表面粗糙的缺陷时,缺陷表面粗糙度对缺陷反射波高的影响是------( )
A.反射波高随粗糙度的增大而增加;
B.缺陷表面粗糙度对缺陷反射波高无影响;
C.反射波高随粗糙度的增大而下降;
D.A和B都可能
[多选题]紧急缺陷时以下设备缺陷处理时限不大于2小时的是()。
A.保护设备
B.安自设备
C.通信设备
D.自动化设备
[多选题]重大缺陷时以下设备缺陷处理时限不大于36小时的是()。
A.保护设备(220kV及以上稳控装置)
B.安自设备(220kV及以上稳控装置)
C.通信设备
D.自动化设备
[单选题]检验近表面缺陷,最有效的方法是:( )
A.可变角探头;
B.直探头;
C.斜探头;
D.收/发联合双晶探头.
[单选题]检验近表面缺陷，最有效的探头是()。
A.可变角探头
B.直探头
C.斜探头
D.收/发联合双晶探头
[判断题]收/发联合双晶探头适合于检验近表面缺陷。
A.正确
B.错误
