更多"[多选题]试件内部的、光滑的、片状的与探测面垂直的缺陷，能有效发现缺陷"的相关试题:
[单选题]为有效的发现工件内部的片状缺陷,应选用( )方法最合适。
A.超声探伤法
B.射线探伤法
C.磁粉探伤法
D.涡流探伤法
[填空题]为有效的发现工件内部的片状缺陷,在射线探伤法和超声波探伤法二者之间,选用( )方法最合适。
[单选题]为有效的发现工件内部的片状缺陷,在射线探伤法和超声波探伤法二者之间,选用( )探伤方法最合适。
A.磁粉
B.渗透
C.涡流
D.超声波
[单选题]单晶片直探头接触法探伤中,与探测面十分接近的缺陷往往不能有效地检出 ,因为( )。
A.近场干扰
B.材质衰减
C.盲区
D.折射
[单选题]下列情况,试件失去代表性、试件缺少、试验报告有缺陷或对试验报告有怀疑等时 ,仲裁试验应由有资质的( )进行。
A.监理单位试验室
B.法定检测单位
C.建设方试验室
D.施工单位母体试验室
[单选题]用垂直法探测同一试件同深度上的两个缺陷,调节衰减器使其回降至屏高的50%,前一个缺陷回波至此高度时衰减器读数时是10 dB,后一个缺陷回波至此高度时衰减器读数是40 dB,则( )。
A.前一个缺陷大于后一个
B.后一个缺陷大于前一个
C.两者一样大
D.两者大小关系不确定
[单选题]按照尽可能声束与缺陷垂直的原则,选择探头主要考虑所测试件的结构和( )。
A.材质
B.厚度
C.形状
D.晶粒结构
[判断题]按照尽可能声束与缺陷垂直的原则,选择探头主要考虑所测试件的结构和厚度。( )
A.正确
B.错误
[单选题]用垂直法以相同探测灵敏度探测同一试件同深度上的两个缺陷，调节衰减器使其回波降至屏高的50%，前一个缺陷回波至此高度时衰减器读数为10dB，后一个缺陷回波至此高度时衰减器读数是40dB，则
A.前一个缺陷大于后一个
B.后一个缺陷大于前一个
C.两者一样大
D.任意
[单选题]描述探伤仪示波屏上由于试件的结构组织或小缺陷或上述两者所引起的大量低幅度信号的术语是
A.底面多次回波
B.探测面多次回波
C.杂波
D.共振信号
[单选题]描述探伤仪示波屏上由于试件的结构组织或小缺陷或上述两者所引起的大量低幅信号的术语是
A.底面多次回波
B.探测面多次回波
C.杂波
D.共振信号
