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[单选题]靠近探头的长条形缺陷并不一定都能测到,因为( )。
A.声束扩散
B.材质衰减
C.仪器阻塞效应
D.折射
[填空题]靠近探头的缺陷不一定都能探测到,因为有___。
[判断题]检验近表面缺陷时,最好采用联合双晶探头是因为该探头晶片前面带有机玻璃延迟块,减小了纵波单晶探头存在的阻塞。
A.正确
B.错误
[单选题]靠近探头的干涉区称为( )
A.近场区
B.声阻抗
C.指数场
D.相位区
[判断题]靠近探头的干涉区,称为声阻抗。
A.正确
B.错误
[判断题]利用双晶直探头确定缺陷边界或指示长度时,探头移动方向应与探头分割面平行。
A.正确
B.错误
[单选题]靠近探头的干涉区,常被称为( )。
A.近场区
B.声阻抗
C.指数场
D.相位区