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发布时间:2020-06-20 22:27:06

[多选题]试件内部的、光滑的、片状的与探测面垂直的缺陷,能有效发现缺陷的探伤方法是()。
A.串列式探伤
B.斜探头探伤
C.双晶片直射法
D.表面探伤

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