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[判断题]检验近表面缺陷时,最好采用联合双晶探头是因为该探头晶片前面带有机玻璃延迟块,减小了纵波单晶探头存在的阻塞。( )
A.正确
B.错误
[判断题]检验近表面缺陷时,最好采用联合双晶探头是因为该探头晶片前面带有机玻璃延迟块,减小了纵 波单晶探头存在的阻塞。( )
A.正确
B.错误
[单选题](19424)39. 用周向磁化法检验近表面的缺陷时,使用直流电流电代替交流电的原因是( )
A.磁粉的流动性不再对检验有影响
B.直流电易于达到磁场饱和
C.交流电的趋肤效应使可发现缺陷的深度变小
D.没有技术方面的理由
[单选题]声波垂直入射到表面粗糙的缺陷时,缺陷表面粗糙度对缺陷反射波高的影响是( )。
A.反射波高随粗糙度的增大而增加
B.无影响
C.反射波高随粗糙度的增大而下降
D.以上a和b都可能
[单选题](19115)146.声波垂直入射到表面粗糙的缺陷时,缺陷表面粗糙度对缺陷反射波高的影响是( )
A.反射波高随粗糙度的增大而增加
B.无影响
C.反射波高随粗糙度的增大而下降
D.以上a和b都可能
[单选题]检验近表面缺陷,最有效的探头是()。
A.可变角探头
B.直探头
C.斜探头
D.收/发联合双晶探头
[判断题]收/发联合双晶探头适合于检验近表面缺陷。 ( )
A.正确
B.错误
[单选题]检验近表面缺陷,最有效的方法是( )。
A.可变角探头
B.直探头
C.斜探头
D.收/发联合双晶探头
[单选题](19361)192. 当一个材料中存在表面和近表面缺陷时,在工件磁化后,就会在缺陷附近产生一个磁场。这个磁场称为( )
A.剩余磁场
B.磁化磁场
C.漏磁场
D.感应磁场
[单选题]当一个材料中存在表面和近表面缺陷时,在工件磁化后,就会在缺陷附近产生一个磁场。这个磁场称为
A.剩余磁场
B.磁化磁场
C.漏磁场
D.感应磁场
[单选题]瑞利波在传播过程中遇到表面缺陷时,部分声波在缺陷处以( )的形式被反射。
A.纵波
B.横波
C.瑞利波
D.儒本波
[单选题](19490)61.检验近表面缺陷,最有效的方法是( )
A.可变角探头
B.直探头
C.斜探头
D.收发联合双晶探头
[填空题]超声波探伤,检验近表面缺陷,最有效的探头形式应是 探头。