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[单选题]介损电桥测量小电容试品介质损耗因数时，采用( )接线较好。
A.正接线
B.反接线
C.对角接线
D.屏蔽接线
[单选题]2.147. 第147题
用介质损电桥测量小电容试品介质损耗因数时,采用( )抗电场干扰好,测量误差较小。
A.正接线
B.反接线
C.对角接线
D.低压测量
[判断题]4.81.第85题
AI- 6000A自动介损电桥采用的是变频抗干扰原理。( )
A.正确
B.错误
[判断题] 在相同条件下,用西林电桥测量小电容试品的tanδ和C时,用正接线方式和反接线方式测量的结果是完全相同的。( )
A.正确
B.错误
[判断题]2.186. 第186题
AI - 6000A介损电桥在试验中,当发现高压引线接触不良,无需停电,可直接进行处理,因为高压引线是绝缘线,不会触电。
A.正确
B.错误
[判断题]2.296. 第296题
现场用电桥测量介质损耗因数时,如果标准电容器受潮,有可能出现测得介损值为负值。
A.正确
B.错误
[填空题]测量介损时,电桥的接线方式分（ ） 和 （ ） 。
[判断题]采用西林电桥测量介质损耗角正切值时,通过调节可调电阻R和可变电容C使检流计指零,电桥平衡,这时可变电容C指示的电容量(取μF)值就是被试设备的tanδ值。
A.正确
B.错误
[单选题]1.288. 第288题
测量介质损耗因数时,( )缺陷通常不能被发现。
A.小体积试品的局部缺陷
B.整体劣化
C.整体受潮
D.大体积试品的局部缺陷
[判断题]对高供低计的专线用户,在计算功率因数时需加上线路与变压器损耗的有功和无功电量。( )
A.正确
B.错误
[单选题]测量高压电容型套管的介质损耗因数时，要求将套管（）在妥善接地的套管架上进行
A.水平放置
B.垂直放置
C.不接地
D.任意角度
[多选题]4.66.第66题
现场用电桥测量介损,出现负值的主要原因( )。
A.标准电容器介损大于试品介损
B.电场干扰
C.试品受潮
D.空间干扰网络的影响
[单选题]测量110kv及以上高压电容型套管的介质损耗因数时（），往往测量结果有较大的差别
A.接线位置不同时
B.电源位置不同时
C.套管的放置位置不同
D.仪器的放置位置不同
[单选题]3.165. 第165题
测量110kV及以上高压电容型套管的介质损耗因数时( ),往往测量结果有较大的差别。
A.接线位置不同时;
B.电源位置不同时;
C.套管的放置位置不同;
D.仪器的放置位置不同
[单选题]3.145. 第145题
测量高压电容型套管的介质损耗因数时,要求将套管( )在妥善接地的套管架上进行。
A.水平放置;
B.垂直放置;
C.不接地;
D.任意角度
[单选题]4.145. 第145题
测量串级式电压互感器绝缘支架介质损耗因数时,可选择的接线方式是( )。
A.自激法
B.末端加压法
C.末端屏蔽法
D.反接法
[单选题]2.140. 第140题
测量小容量试品的介质损耗因数时,要求高压引线与试品的夹角不小于( )。
A.60.0
B.75.0
C.85.0
D.90.0
