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[判断题]测量介质损耗因数,通常不能发现大体积试品的局部缺陷。( )
A.正确
B.错误
[单选题]2.109. 第109题
测量介质损耗因数,通常不能发现大体积试品的局部缺陷。( )
A.正确
B.错误
[单选题]测量介质损耗因数,通常不能发现的设备绝缘缺陷是( )。
A.整体受潮
B.整体劣化
C.小体积试品的局部缺陷
D.大体积试品的局部缺陷
[单选题]测量介质损耗因数,通常不易发现( )
A.整体受潮
B.绝缘油劣化
C.小体积试品的局部缺陷
D.大体积试品的局部缺陷
[单选题]2.234. 第234题
测量介质损耗因数,通常不能发现的设备绝缘缺陷是( )。
A.整体受潮
B.整体劣化
C.小体积试品的局部缺陷
D.大体积试品的局部缺陷
[单选题]测量介质损耗因数时,( )缺陷通常不能被发现。
A.小体积试品的局部缺陷
B.整体劣化
C.整体受潮
D.大体积试品的局部缺陷
[单选题]1.288. 第288题
测量介质损耗因数时,( )缺陷通常不能被发现。
A.小体积试品的局部缺陷
B.整体劣化
C.整体受潮
D.大体积试品的局部缺陷
[多选题]测量介质损耗因数,对发现以下哪些缺陷较为有效()?
A.整体受潮
B.绝缘油劣化
C.小体积试品的局部缺陷
D.大体积试品的局部缺陷
[单选题]电容量和介质损耗因数试验时,电压波形应为正弦波,测量时应注意非正弦波的()对介质损耗因数及电容 量值的影响
A.低次谐波分量
B.高次谐波分量
C.电容电流
D.谐振分量
[判断题]现场用电桥测量介质损耗因数,出现-tanδ的主要原因:①标准电容器CN有损耗,且tanδN>tanδx;②电 场干扰;③试品周围构架杂物与试品绝缘结构形成的空间干扰网络的影响;④空气相对湿度及绝缘表面脏污 的影响( )。
A.正确
B.错误
[多选题]2.33.第32题
测量介质损耗因数，对发现以下哪些缺陷较为有效（）？
A.整体受潮
B.绝缘油劣化
C.小体积试品的局部缺陷
D.大体积试品的局部缺陷
[单选题]介质损耗测试仪的介质损耗因数的测量范围：（ ）。
A.0～1
B.0～0.2
C.0～0.3
D.0～0.4
