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[判断题]收/发联合双晶探头适合于检验近表面缺陷。 ( )
A.正确
B.错误
[判断题]检验近表面缺陷时,最好采用联合双晶探头是因为该探头晶片前面带有机玻璃延迟块,减小了纵波单晶探头存在的阻塞。 ( )
A.正确
B.错误
[判断题]检验近表面缺陷时,最好采用联合双晶探头是因为该探头晶片前面带有机玻璃延迟块,减小了纵 波单晶探头存在的阻塞。( )
A.正确
B.错误
[填空题]探头型式有直探头、( )、表面波探头、双晶探头等。
[单选题]双晶探头用于探测工件( )缺陷。
A.近表面
B.表面
C.内部
D.平面形
[单选题]检验近表面缺陷,最有效的探头是()。
A.可变角探头
B.直探头
C.斜探头
D.收/发联合双晶探头
[填空题]超声波探伤,检验近表面缺陷,最有效的探头形式应是( )探头。
[简答题]在超声波探伤中,双晶探头用于探测工件中什么部位的缺陷?
[判断题]双晶片联合探头,由于盲区较小,因此有利于近表面缺陷的探测。 ( )
A.正确
B.错误