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发布时间:2023-12-02 23:32:47

[判断题]光纤弯曲时部分光纤内的光会因散射而损失掉,造成损耗。( )
A.正确
B.错误

更多"[判断题]光纤弯曲时部分光纤内的光会因散射而损失掉,造成损耗。( "的相关试题:

[单选题]光纤产生损耗的原因主要有“ ”、散射损耗、弯曲损耗、连接损耗。
A.吸收损耗
B.燃烧损耗
C.老化损耗
D.裂隙损耗
[单选题]光纤产生损耗的原因主要有吸收损耗、散射损耗、弯曲损耗、“ ”。
A.吸收损耗
B.燃烧损耗
C.老化损耗
D.连接损耗
[单选题]光纤产生损耗的原因主要有吸收损耗、散射损耗、“ ”、连接损耗。
A.燃烧损耗
B.弯曲损耗
C.老化损耗
D.裂隙损耗
[判断题] 对光缆长度、光纤损耗系数及光纤后向散射信号曲线等参数进行验核,外观检查以确认经长途运输后光缆是否完好无损。( )
A.正确
B.错误
[多选题] ( ) 光纤吸收损耗是制造光纤的材料本身造成的损耗,包括( )。
A.紫外吸收
B.传输损耗
C.杂质吸收
D.散射损耗
E.红外吸收
[判断题]OTDR法不仅可以测量光纤的损耗,还可以测量光纤的长度、故障点、及背向散射曲线。
A.正确
B.错误
[单选题]“ ”不仅可以测量光纤的损耗,还可以测量光纤的长度、故障点、及背向散射曲线。
A.OTDR法
B.剪断法
C.插入法
D.瑞利散射法
[多选题]光纤背向散射曲线包含的信息有
A. 光纤长度
B. 光纤累积损耗
C. 光纤接头的插入损耗
D. 光纤接点位置
[判断题] 中继段光纤线路损耗,包括光纤的损耗和固定接头损耗。( )
A.正确
B.错误
[单选题]用OTDR对某条光缆或某光纤传输链路进行全程光纤背向散射信号曲线测试时,若1550nm波长测试发现曲线上有比较大的损耗台阶,再用1310nm波长复测,若在此波长下损耗台阶 ,说明该处存在弯曲过度问题。 ( )
A.明显变小或消失
B.同样大
C.明显增大
D.无固定规律
[判断题]光纤损耗包括,材料损耗,模式损耗和技导损耗
A.正确
B.错误
[单选题]光纤背向散射测试中出现伪增益的原因是()。
A.接续点之后的光纤比接续点前的光纤反射系数大
B.光信号的到放大
C.光信号损耗严重
D.光纤断裂
[多选题]用OTDR对某条光缆或某光纤传输链路进行全程光纤背向散射信号曲线测试时,下列叙述正确的是( )。
A. 一般在1550nm波长处测试
B. 设置的光脉冲宽度过小会产生较强的菲涅尔反射,进而加大盲区效应
C. 设置的量程应使OTDR显示的背向散射信号曲线占据100%较为适宜
D. 若1550nm波长测试无异常,则1310nm波长测试也肯定无异常
[单选题]光纤通信系统中存在非光纤自身原因的损耗有()。 
A.吸收性损耗
B.非线性散射损耗
C.微弯损耗
D.瑞利散射损耗
[多选题]熔接损耗非本征因素的光纤熔接损耗主要由( )因素造成。
A.光纤切割端面的不完整性;
B.光纤模场直径不一致;
C.轴心倾斜;
D.光纤切割端面的不清洁;
E.接续人员操作水平差;
F.熔接参数设置不当。
[多选题]光纤损耗系统随着波长而变化,为获得低损耗特性,光纤通信实用的低损耗波长窗口有( )。
A.850nm
B.1100nm
C.1310nm
D.1550nm

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