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[单选题]检验近表面缺陷,最有效的探头是()。
A.可变角探头
B.直探头
C.斜探头
D.收/发联合双晶探头
[判断题]收/发联合双晶探头适合于检验近表面缺陷。
A.正确
B.错误
[单选题]表面波探头用于探测工件()缺陷。
A.近表面
B.表面
C.内部
D.平面形
[判断题]双晶探头主要用于检测近表面缺陷和已知缺陷的定点测量。
A.正确
B.错误
[判断题]双晶探头主要应用于近表面缺陷的探测。
A.正确
B.错误
[判断题]提高探头频率,减小晶片尺寸不可以提高近表面缺陷的探测能力。
A.正确
B.错误
[判断题]双晶片联合探头,由于盲区较小,因此有利于近表面缺陷的探测。
A.正确
B.错误