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[单项选择]照射量和照射量率是表征（）辐射场的物理量。
A. 电子
B. 质子
C. 光子
D. 裂变碎片
[单项选择]照射量是反映X或γ射线对空气（）大小的一个量。
A. 能量吸收
B. 能量消耗
C. 电离本领
D. 电子复合
[单项选择]如以r表示电离室的半径，则中能X射线的有效测量点位于（）
A. 0.3r
B. 0.4r
C. 0.5r
D. 0.75r
E. 几何中心
[单项选择]如以r表示电离室的半径，则高能X射线的有效测量点位于（）
A. 0.3r
B. 0.4r
C. 0.5r
D. 0.75r
E. 几何中心
[单项选择]若已知γ辐射场某处的照射量率为1R/h，则可近似认为该处的剂量率为（）。
A. 0.01Sv/h
B. 0.1Sv/h
C. 1Sv/h
D. 10Sv/h
[单项选择]空气中同一点中的X或γ射线为1伦琴照射量时其对应的吸收剂量为（）戈（瑞）。
A. 8.73×10-3
B. 8.73×103
C. 8.73×10-1
D. 0.95
[单项选择]半导体探测器与空气电离室比较突出优点是（）
A. 具有很高的灵敏度
B. 不易受环境温度影响
C. 对中低能X射线的测量较准确
D. 不会产生“暗”电流
E. 探头不易受损
[单项选择]根据Bragg-Gray理论，用电离室测量介质中某点的吸收剂量，该点的吸收剂量可以通过电离室空气的平均吸收剂量乘以一个比例系数得到，这个比例系数为水和空气的（）
A. 质量阻止本领比
B. 线性组织本领比
C. 线性散射本领比
D. 质能吸收系数比
E. 质量散射本领比
[单项选择]关于电离室空气吸收剂量校准因子ND的描述，错误的是（）
A. 依赖于电离室的几何形状
B. 依赖于电离室的制作材料
C. 与电离室的比释动能校准因子NK有关
D. 与照射量校准因子NX有关
E. 与吸收剂量校准因子Cλ，CE有关
[单项选择]如以r表示电离室的半径，则钴-60γ射线的有效测量点位于（）
A. 0.1r
B. 0.3r
C. 0.5r
D. 0.75r
E. 几何中心
[单项选择]确定平行板电离室的空气吸收剂量因子一般采用的方法是（）
A. 电子束校准法
B. 钴-60校准法
C. 空气中直接校准
D. 不同能量分别校准
E. 水中直接校准
[单项选择]照射量的适用范围，照射量适用于（）。
A. 所有种类的射线在物质中的电离能力
B. γ光子和X射线在空气中的电离能力
C. α粒子在物质中的电离能力
D. β粒子在物质中的电离能力
E. 中子在水中的电离能力
[单项选择]在吸收剂量的绝对制度中，哪一物理量考虑了电离室材料（包括平衡帽）对射线的吸收和散射（）
A. Km
B. Katt
C. Nx
D. Ng
E. Nd
[单项选择]电离室的有效测量点规定在电离室中心点的哪个方向（）？
A. 前方
B. 后方
C. 右侧方
D. 左侧方
E. 中心点
[单项选择]按照IAEA测量规程1997年修订版的建议，关于用电离室在水模体中测量加速器8MVX射线吸收剂量时的参考条件，不正确的是（）
A. 源皮距采用常规治疗距离
B. 照射野为10cm×l0cm
C. 参考深度为水下10cm
D. 有效测量点位于电离室前方距离电离室几何中心0.6倍电离室半径处
E. 每次测量时，机器跳数预设为100MU
[判断题]天线辐射场经理想大地反射与原天线辐射场相互叠加，形成了天线在空间中的辐射场。
[单项选择]若散射线忽略不计，当透照厚度增加二个半价层时，则胶片接受的照射量将减少（）。
A. 1/4
B. 1/2
C. 3/4
D. 1.0
[单项选择]在吸收剂量的绝对刻度中，哪一物理量表示对电离室材料完全空气等效修正（）
A. Km
B. Katt
C. Nx
D. Nk
E. Nd
[单项选择]电离室经校准后的空气比释动能校准因子Nk=9.08×lO3Gy/div，次级电子在空气中以韧致辐射形式损失的能量份额为0.003，电子的平均电离能为33.97J/C，该电离室材料空气不完全等效的校正因子为0.991，设电离室材料（包括平衡帽）对射线吸收和散射的校正因子为0.990，则该用户电离室的空气吸收剂量校准因子是（）
A. 0.888×l0-2Gy/div
B. 0.891×l0-2Gy/div
C. 0.908×l0-2Gy/div
D. 2.291×l0-2Gy/div
E. 2.672×l0-2Gy/div
