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[单选题]探头晶片尺寸( ),近场区长度增加,对近表面探伤不利。
A.增加
B.减小
C.不变
[判断题]探头晶片尺寸增加,近场区长度增加,对探伤不利。 ( )
A.正确
B.错误
[填空题]聚焦探头的焦距相对于其不聚焦的探头一定是( )近场区长度。
[简答题]探头晶片尺寸增加,对探伤有哪些有利因素?
[简答题]探头晶片尺寸增加,对探伤有哪些不利因素?
[填空题]脉冲反射法超声波探伤,由于近场区的干扰,对表面和近表面的缺陷检出能力( )。
[判断题]探头晶片尺寸增加,半扩散角减少,波束指向性变好,超声波能量集中。 ( )
A.正确
B.错误
[单选题]探头晶片尺寸愈大,其灵敏度( )。
A.越高
B.越低
C.不变
D.与尺寸无关
[单选题]较小的探头晶片尺寸发射的超声波束,其远场覆盖面积( )。
A.较大
B.较小
C.不变
D.较窄
[填空题]一般工件厚度较小时,选用较大的K值,以便增加( )的声程,避免近场区探伤。
[判断题]探头晶片尺寸大,辐射的超声波能量大,探头未扩散区扫查范围大,远距离扫查范围相对变小,发现远距离缺陷能力增强。 ( )
A.正确
B.错误
[填空题]探头晶片尺寸( ),半扩散角减少,波束指向性变好,超声波能量集中,对探伤有利。
[单选题]探头晶片尺寸大,辐射的超声波能量扫查范围相对变小,发现远距离缺陷能力增强。( )
A.增加
B.减小
C.不变
[单选题]探头晶片尺寸( )时,半扩散角减少,波束指向性变好,超声波能量集中,对探伤有利。
A.增加
B.减小
C.不变
D.变化不确定
[填空题]接触法超声波探伤,由于近场区内声束中的声压变化不规则,一般不在近场区( )。
[判断题]检验近表面缺陷时,最好采用联合双晶探头是因为该探头晶片前面带有机玻璃延迟块,减小了纵波单晶探头存在的阻塞。( )
A.正确
B.错误
