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[判断题]用西林电桥测介质损耗时,常用的接线方式有两种:正接线和负接线。
A.正确
B.错误
[单选题] 用西林电桥测试tanδ时消除表面泄漏电流的接线方法是利用( )将表面泄漏电流直接回流到试验电源。
A.短接线
B.屏蔽环
C.分流器
[单选题] 124/1137 用西林电桥测试tanδ时消除表面泄漏电流的接线方法是利用()将表面泄漏电流直接回流到试验电源。
A.A:.短接线
B.B:.屏蔽环
C.C:.分流器
[判断题]598/1137 用西林电桥测试tanδ时消除表面泄漏电流的接线方法是利用屏蔽环将表面泄漏电流直接回流到试验电源。
A.正确
B.错误
[单选题]用西林电桥测试tanδ时消除表面泄漏电流的接线方法是利用( )将表面泄漏电流直接回流到试验电源。
A.短接线
B.屏蔽环
C.分流器
[判断题]用西林电桥测试tanδ时消除表面泄漏电流的接线方法是利用屏蔽环将表面泄漏电流直接回流到试验电源。
A.正确
B.错误
[多选题]测量三绕组变压器绕组介质损耗时,如果被侧绕组为高压绕组,接地部位该是( )。
A.外壳
B.低压绕组
C.中压绕组
[多选题]测量三绕组变压器绕组介质损耗时,如果被侧绕组为低压绕组,接地部位该是( )。
A.外壳
B.高压绕组
C.中压绕组
[判断题]测量双绕组变压器绕组介质损耗时,如果被侧绕组为高压和低压绕组,接地部位该是外壳。
A.正确
B.错误