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发布时间:2023-11-04 19:00:40

[单项选择]RT底片欲得较真实的缺陷尺寸则应()
A. 缩小射线至底片的距离,且将底片紧贴试件
B. 增加射线至底片的距离,且将底片紧贴试件
C. 缩小射线至底片的距离,且将底片远离试件
D. 增加射线至底片的距离,且将底片远离试件

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[单项选择]底片判读时发现物件表面缺陷,则应()
A. 重照
B. 划出予以铲修
C. 最好先到现场对照表面状况再处理
D. 不管它
[单项选择]在JIS标准中,如第一种与第二种缺陷混合存在于底片的判定区内,则应()
A. 依各种缺陷作等级分类,取其中较差的等级作为整个等级
B. 依各种缺陷的点数全部相加后,取较差的等级为整个等级
C. 依各种缺陷作等级分类,取其中较差的降一级为整个等级
D. 取其中任何一种的等级作为整个等级
[单项选择]射线底片上缺陷轮廓鲜明的程度叫做()
A. 主因对比度;
B. 颗粒度;
C. 清晰度;
D. 胶片对比度。
[填空题]如果胶片的γ值小,底片上缺陷图像的对比度就()。
[单项选择]散射线对穿透射线的比率小时,底片上缺陷图像的对比度()。
A. 不变
B. 较低
C. 较高
D. 以上都不对
[单项选择]散射线对穿透射线的比率()时,底片上缺陷图像的对比度较高。
A. 大
B. 小
C. 相等
D. 都不对
[单项选择]底片判读如为缺陷,则该缺陷为()
A. 错误显示
B. 无关显示或不相关显示
C. 相关显示
D. 缺陷
[简答题]探头晶片尺寸选则应考虑哪些因素?
[单项选择]缺陷尺寸的精确估计()
A. 与显示的浓淡有关
B. 与显示的宽窄有关
C. 与显示形成的速度有关
D. 没有一定方法能达到精确估计
[简答题]底片上常见伪缺陷产生的原因是什么?
[判断题]可以认为,目前用超声波法确定内部缺陷真实尺寸的问题已经解决。()
[单项选择]在底片的评定中,一般根据底片上影像的什么来判断缺陷性质?()
A. 数量和密度
B. 形状
C. 大小和位置
D. b和c
[填空题]厚度逐渐变化的缺陷要比厚度突变的缺陷在底片上产生的()。
[单项选择]在超声探伤时,如果声束指向不与平面缺陷垂直,则缺陷尺寸一定时,缺陷表面越平滑反射回波越:()
A. 大
B. 小
C. 无影响
D. 不一定
[判断题]线材成品有折叠缺陷是属于尺寸缺陷。
[简答题]计算题:射线照相底片上无缺陷部位的黑度为2.6,缺陷部位的黑度为3.0,已知散射比n=1,吸收系数μ=2cm-1,胶片反差系数r在该黑度范围内为3,求缺陷的厚度是多少?(设缺陷对射线的吸收不计)
[单项选择]对底片上怀疑是伪缺陷迹象的判别方法是()
A. 从底片两侧观察该迹象是否表面反光
B. 视线与底片平面法线成较大的角度观察是否底片划伤
C. 用放大镜作局部观察
D. 核查被透照工件实物表面与所用增感屏情况
E. 以上都是
[单项选择]容易探测到的缺陷尺寸一般不小于()。
A. 波长的一半
B. 1个波长
C. 1/4波长
D. 若干波长
[单项选择]使用内窥镜测量缺陷尺寸的方法是()
A. 利用已知尺寸物件对比
B. 借助物距间接推估
C. 使用测量型内窥镜
D. 以上都可以

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