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发布时间:2023-11-05 01:22:02

[判断题]使用K型扫查阵列式探头增加晶片对数主要是为了提高对焊缝的扫查密度。
A.正确
B.错误

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[判断题]使用K型扫查阵列式探头增加晶片对数主要是为了提高对焊缝的扫查密度。( )
A.正确
B.错误
[填空题]使用K型扫查阵列式探头增加晶片对数主要是为了提高对焊缝的( )。
[填空题]新焊焊缝扫查装置应能对( )部位进行K型扫查或串列式扫查。
[判断题]( )在役焊缝扫查装置应能对轨腰部位进行K型扫查或串列式扫查。
A.正确
B.错误
[判断题]用于现场焊缝的扫查装置应能对轨腰部位进行K型扫查或串列式扫查。( )
A.正确
B.错误
[计算题][计算题]试计算双K1探头对60Kg/m焊缝轨头侧面进行K型扫查时,两探头入射点到焊缝中心距离相加始终应保持在多少?
[判断题]探头晶片尺寸增加,近场区长度增加,对探伤不利。
A.正确
B.错误
[简答题]探头晶片尺寸增加,对探伤有哪些有利因素?
[多选题]超声波探头按晶片数分( )。
A.A. 单晶片
B.B. 双晶片
C.C. 多晶片
D.D. 厚晶片
[多选题]超声波探头按晶片数分为( )。
A.单晶片探头
B.双晶片探头
C.多晶片探头
[多选题]超声波探头按晶片分为哪几类。( )
A.A.单晶探头
B.B.双晶探头
C.C.三晶探头
D.D.多晶探头
[单选题] 使发射探头的晶片获得突发性能量的电路称为( )。
A.脉冲发生器
B.接收放大器
C.同步发生器
D.衰减器
[单选题]探头晶片尺寸( ),近场区长度增加,对近表面探伤不利。
A.增加
B.减小
C.不变
D.平方关系
[判断题]钢轨探伤时70°探头的晶片一般与钢轨纵向呈一定的偏角。( )
A.正确
B.错误

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